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  • KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測(cè) 分層 空洞 多層可測(cè)掃描聲學(xué)顯微鏡，英文是Scanning Acoustic Microscope，也稱超聲波掃描顯微鏡，用于檢測(cè)各種器件的內(nèi)部分層、空洞、裂紋等缺陷KSI V450E 超聲波掃描顯微鏡可測(cè) 分層 空洞

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    更新日期：2025-11-13
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